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廣州至一科技有限公司
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Hisilicon半導體光電檢測設備隔振方案
SOTOMD300-M被動隔振系統
背景：半導體光電測試應用
使用單位：深圳市海思半導體有限公司
地點：廣東省深圳市龍崗區坂田華為基地F區
設備：Hisilicon半導體光電檢測設備
隔振方案：SOTOMD300-M
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