減震臺：分析天平隔振

       Minusk隔振系統可以使分析天平能夠在以前不可能的振動環境中工作，例如在具有重型設備的制造工廠和建筑物高層。

       分析天平對振動特別敏感，因為它們引入g載荷，干擾重力對質量的影響的基本重量測量機制。振動降低了分辨率，防止天平實現其性能。分辨率低質1或0.1微克的高分辨率天平對振動特別敏感，即使使用內置的電子平均技術來補償振動。在某些應用中，即使是一個小數點的減少也會嚴重影響分析天平的有效性。 

       低頻振動特別難以衰減，例如由車輛或制造廠的重型設備引起的地面和地面振動。低頻振動也出現在建筑物的上層，特別是由風搖引起的水平振動和來自腳下或附近設備的垂直振動。因此，一些計量實驗室沒有設在其最有用的制造設施中，建筑物上層的一些實驗室也未能使用高分辨率天平發揮其最大功效。

       傳統上，用大理石或其他重材料制成的“平衡桌”解決了振動問題。這些平衡桌通過增加質量和剛度來減少振動，但是在高振動環境中它們的有效性有限。氣浮平臺已被用于有限的成功，因為它們對低頻振動不是有效的，并且有限的典型地面和建筑物振動的衰減。主動或電子力消除系統也已被使用，但這些都是非常昂貴的，并且也具有有限的動態范圍，并且不能處理大振幅振動。

       根據振動頻率，Minusk隔振系統的性能要比氣墊式隔振平臺好10-100倍，甚至比主動式隔振系統的性能好一些，只需花費很少的成本。Minusk通過一個緊湊型平臺提供有效的振動隔離，優勢超過平衡桌。

       Minusk在分析天平在氣流中隔振上有非常豐富的經驗，我們的隔離器通過提供非常低的剛度而工作，并且可以具有低至0.5 Hz的諧振頻率。使它們移動所需的力非常小，因此，將隔振器和分析天平屏蔽，不受氣流影響有時是必要的。增加質量也有幫助。

至一科技（To One Technology）主營精密設備儀器（顯微鏡、原子力顯微鏡、電子顯微鏡、半導體設備、激光設備）隔振臺、主動隔振臺；電鏡、FIB系統、Dual Beam設備、核磁共振設備主動消磁系統.....