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蔡司電子顯微鏡隔震方案ArisMD主動隔震系統&Aris Integra主動隔振系統背景：Sigma500汽車科學應用、EVO10半導體應用、Sigma300材料科學應用蔡司 EVO 系列，模塊化的 SEM 平臺適用于直觀操作、例行檢測和研究應用Sigma 系列產品，用于高品質成像與高級分析的場發射掃描電子顯微鏡使用單位：BMW地點：遼寧省沈陽市鐵西經濟開發區寶馬大道一號華晨寶馬汽車有限公司儀器型...
to one減震臺應用于IVF工作站助力輔助生殖實驗IVF工作站介紹及環境要求：體外授精（In Vitro Fertilization）工作站作為實驗室輔助生殖技術（ART）的重要組成部分，主要作用為對人類配子、胚胎進行體外操作及培養，被譽為生殖中心的“心臟”；其實驗室必須建立嚴格的質量控制及管理體系，以提高ART活產率和安全性為根本；其中實驗室空氣質量和環境是影響ART結局的關鍵因素之一，如未能...
FEI Apreo S LoVac場發射掃描電子顯微鏡隔振方案ArisMD300主動隔振系統背 景：應用于高品質成像與高級分析的場發射掃描電子顯微鏡成像檢測，是研究納米顆粒、催化劑、粉末和納米器件的理想平臺。使用單位：廈門稀土材料研究所地 點：福建省廈門市集美區兌山西珩路258號儀器型號：FEI Apreo S LoVac隔振方案：ArisMD300主動隔振系統FEI Apr...
Hisilicon半導體光電檢測設備隔振方案SOTOMD300-M被動隔振系統背景：半導體光電測試應用使用單位：深圳市海思半導體有限公司地點：廣東省深圳市龍崗區坂田華為基地F區設備：Hisilicon半導體光電檢測設備隔振方案：SOTOMD300-MHisilicon半導體光電檢測設備SOTOMD300-M被動隔振系統安裝應用圖...
TEL SMUR-P8晶圓測試儀隔振方案ARISMD300主動隔振系統背景：東京電子TEL SMUR-P8晶圓測試儀，半導體晶圓針測應用使用單位：昆明京東方顯示技術有限公司地點：云南省昆明市官渡區昆明京東方顯示技術有限公司設備型號：TEL SMUR-P8隔振方案：ARISMD300主動隔振系統TEL東京電子Wafer Prober晶圓測試儀ARISMD300主動隔振系統安裝應用案例...
賽默飛（原FEI）Talos F200S TEM隔振方案ARISMD主動隔振系統背 景：Talos F200S 材料科學應用FEI Talos F200系列場發射透射電子顯微鏡融合了出色的高分辨率掃描/透射電子顯微鏡 (STEM) 和 TEM 成像功能與行業的能量色散 X 射線光譜儀 (EDS) 信號檢測功能及基于成分測繪的三維化學表征功能。使用單位：中國科學院長春光學精密機械與物理研...
自動化圖像掃面及圖像分析系統隔震技術_SotoTT減震臺/防震臺 BioView掃描系統能基于探針的顏色及樣式、信號強度、大小及形狀來幫助病理醫生觀察，分類和計數感興趣的細胞，為細胞遺傳、腫瘤和病理實驗室提供圖像分析解決方案。 其Solo-Touch工作站是為在個人觸摸屏顯示器的應用而優化設計的，并且SoloWeb提供了在網絡環境中進行閱片回顧和分析的解決方案。 BioView在實體瘤...
減震臺：分析天平隔振 Minusk隔振系統可以使分析天平能夠在以前不可能的振動環境中工作，例如在具有重型設備的制造工廠和建筑物高層。 分析天平對振動特別敏感，因為它們引入g載荷，干擾重力對質量的影響的基本重量測量機制。振動降低了分辨率，防止天平實現其性能。分辨率低質1或0.1微克的高分辨率天平對振動特別敏感，即使使用內置的電子平均技術來補償振動。在某些應用中，即使是一個小數...
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